簡要介紹
TH2661型四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。
由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現場測試要求。
性能特點
■ 大屏幕液晶顯示
■ 采用SMT表面貼裝工藝
■ 可手動或自動選擇合適的電流源量程
■ 電流源方向有正方向、反方向和正反方向三種選擇
■ 預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
■ 報警門限預設，可用于HI PASS LOW 分選
■ 200個讀數存儲，可對存儲讀數求最大值、最小值和標準偏差值 等數學統計
■ USB通訊功能，可通過上位機軟件對手持表進行操作
■ 0.5%基本精度
■ 讀數穩定性好
■ 自動關機功能
■ 電池及外接電源供電方式